测试室是什么情况,当播报云天数据的声音回荡在测试室时

半电波暗室模拟理想的开阔场情况，即场地具有一个无限大的良好的导电地平面。在半电波暗室中，由于地面没有覆盖吸波材料，因此将产生反射路径，这样接收天线接收到的信号将是直射路径和反射路径信号的总和。（三）、开阔场开阔场（open area test, OAT）是平坦、空旷、电导率均匀良好、无任何反射物的椭圆形或圆形试验场地，理想的开阔场地面具有良好的导电性，面积无限大，在30MHz~1000MHz之间接收天线接收到的信号将是直射路径和反射路径信号的总和。

但在实际应用中，虽然可以获得良好的地面传导率，但是开阔场的面积却是有限的，因此可能造成发射天线与接收天线之间的相位差。在发射测试中，开阔场的使用和半电波暗室相同。三、性能指标频率范围：30MHz～18GHz;(一)吸波材料反射损耗：30MHz～18GHz≥15dB;(吸波材料采用复合吸波材料，即锥形含碳海绵吸波材料粘贴在铁氧体上)(二)屏蔽室屏蔽性能微波：1GHz～10GHz≥100dB;10GHz～18GHz≥90dB;电波暗室的测试方法一般按GB12190-90标准进行;(三)归一化场地衰减±4dB，场均匀性0～6dB，符合GJB2926-97标准。

[1]四、主要用途电波暗室用于模拟开阔场。同时用于辐射无线电骚扰（EMI）和辐射敏感度（EMS）测量，电波暗室的尺寸和射频吸波材料的选用主要由受试设备（EUT）的外行尺寸和测求确定，分1m法、3m法或10m法。五、影响因素（一）、参数1、影响其性能指标的因素主要包括：暗室参数、天线测量的误差以及其他误差等。

2、微波暗室的电性能指标主要由静区的特征来表征。静区的特性又以静区的大小、静区内的最大反射电平、交叉极化度、场均匀性、路径损耗、固有雷达截面、工作频率范围等指标来描述。3、影响暗室性能指标的因素是多元化的，也是很复杂的，在利用光线发射法和能量物理法则对暗室性能进行仿真计算时，需要考虑电波的传输去耦，极化去耦，标准天线的方向图因素，吸收材料本身的垂直入射性能和斜入射性能，多次反射等影响。

但在实际的工程设计过程中，往往以吸收材料的性能作为暗室性能的关键决定因素。1)交叉极化度：由于暗室结构的不严格对称、吸收材料对各种极化波吸收的不一致性以及暗室测试系统等因素使电波在暗室传播过程中产生极化不纯的现象。如果待测试天线与发射天线的极化面正交和平行时，所测试场强之比小于-25dB，就认为交叉极化度满足要求。

2)多路径损耗：路径损耗不均匀会使电磁波的极化面旋转，如果以来波方向旋转待测试天线，接收信号的起伏不超过 -0.25 dB，就可忽略多路径损耗。3)场均匀性：在暗室静区，沿轴移动待测试天线，要求起伏不超 -2dB；在静区的截面上，横向和上下移动待测天线，要求接收信号起伏不超过 -0.25 dB。（二）、天线测量的误差1)有限测试距离所引起的误差设待测的是平面天线,接收的来波沿其主波束的轴向.若测试距离大小,由待测天线之不同部位所接受的场不能相同,因此具有平方根律相位差。